Introduction to Focused Ion Beams: Instrumentation, Theory, Techniques and Practice

Przednia okładka
Lucille A. Giannuzzi, North Carolina State University
Springer US, 29 paź 2010 - 358
Introduction to Focused Ion Beams is geared towards techniques and applications. This is the only text that discusses and presents the theory directly related to applications and the only one that discusses the vast applications and techniques used in FIBs and dual platform instruments.

Co mówią ludzie - Napisz recenzję

Nie znaleziono żadnych recenzji w standardowych lokalizacjach.

Inne wydania - Wyświetl wszystko

Informacje bibliograficzne